什么是IC測(cè)試座?IC測(cè)試座是干什么的用的?
IC測(cè)試座是專(zhuān)門(mén)針對(duì)IC的測(cè)試而設(shè)計(jì)的一款產(chǎn)品。一般來(lái)說(shuō),只要是電子元器件的測(cè)試,就必須用到IC測(cè)試座這類(lèi)產(chǎn)品。IC測(cè)試座的種類(lèi)有很多,常見(jiàn)的是BGA封裝測(cè)試座、 DIP\ SOP\ TSOP等的測(cè)試座。
BGA,是球柵測(cè)試, BGA測(cè)試座可以直接插入到芯片的焊盤(pán)上進(jìn)行測(cè)試,不需要拆開(kāi)外殼就能直接看芯片的焊錫。這樣在測(cè)試時(shí)就省去了拆開(kāi)外殼、焊接等環(huán)節(jié),大大提高了工作效率和測(cè)試精度。
BGA測(cè)試座是BGA封裝測(cè)試用的,一共有三類(lèi):
1、 BGA(Ball Grid Array)焊盤(pán)測(cè)試座;
2、 BGA(Ball Grid Array)焊頭插拔式測(cè)試座;
3、 BGA(Ball Grid Array)插針式測(cè)試座。BGA( ball grid array),是球柵陣列封裝的簡(jiǎn)稱(chēng)。BGA封裝是引腳相對(duì)陣列中心對(duì)稱(chēng)的封裝。BGA是最常見(jiàn)的一種封裝形式。BGA封裝之所以流行和普遍,不僅由于采用了BGA封裝的器件具有體積小、重量輕、引腳數(shù)多、性能好和引腳間距離小等特點(diǎn),更為重要的原因是BGA封裝的器件在裝配方面比較方便。
BGA封裝有多種方式,其中引腳在封裝體上的球面形成法陣,用于容納引腳的封裝。BGA可分為: TQM, TSOP, COG, TAB等幾種。
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