老化座具有壽命長、測試穩(wěn)定、交期快的特點(diǎn)，可以提供彈片/探針，支持有球、無球測試，可以更換限位框、適用于各種間距的芯片檢測、支持任何形態(tài)的錫球檢測。但在使用時(shí)，需要注意：

1、溫度一般控制在125℃-150℃在范圍內(nèi)。老化試驗(yàn)是封裝后的加速壽命測試，主要包括高溫條件下的電壓、電流測試，時(shí)序特性測試以及功能測試。

2、為了避免芯片試驗(yàn)過程中的重復(fù)焊接，有必要根據(jù)芯片的封裝類型專門設(shè)計(jì)測試插座，并在測試座安裝在電路板上進(jìn)行生產(chǎn)試驗(yàn)。每個(gè)測試電路板上可以排列幾十個(gè)甚至數(shù)百個(gè)測試座。

3、測試座下面頂針構(gòu)成的陣列與芯片的封裝類型需匹配，在測試過程中，由自動(dòng)機(jī)械手將芯片放入測試座中進(jìn)行測試。

以上內(nèi)容就是使用老化座時(shí)需要注意的事項(xiàng)的相關(guān)介紹，需要老化座的朋友，歡迎前來咨詢。