電子產(chǎn)品，無論是部件、部件、整機(jī)、設(shè)備，都要進(jìn)行老化和測試.老化和測試不是一個(gè)概念.測試前先老化.電子產(chǎn)品（所有產(chǎn)品）通過生產(chǎn)，形成完整的產(chǎn)品，可以發(fā)揮實(shí)用價(jià)值，但使用后會(huì)發(fā)現(xiàn)問題，發(fā)現(xiàn)絕大多數(shù)問題發(fā)生在幾小時(shí)到幾十小時(shí)，然后簡單規(guī)定電子產(chǎn)品老化測試、模仿或等效產(chǎn)品使用狀態(tài)，由產(chǎn)品生產(chǎn)者完成.通過再測試，將有問題的產(chǎn)品留給工廠，并將沒有問題的產(chǎn)品交給用戶，以確保購買給用戶的產(chǎn)品可靠或難較小.這就是老化測試的價(jià)值.

老化測試的最終目的是預(yù)測產(chǎn)品的使用壽命，為制造商評估或預(yù)測產(chǎn)品的耐久性；隨著半導(dǎo)體技術(shù)的快速發(fā)展和芯片復(fù)雜性的逐年提高，芯片測試貫穿于整個(gè)設(shè)計(jì)、研發(fā)和加工過程，變得越來越有趣.老化測試是芯片在交付客戶之前用于去除初始失效產(chǎn)品的重要測試.為防止反復(fù)焊接，不同包裝類型的芯片在老化試驗(yàn)中由特制的老化測試座固定在老化板上進(jìn)行測試驗(yàn)證.為了確保銷售給用戶的產(chǎn)品可靠或問題較少；老化測試分為組件老化和整機(jī)老化，特別是新產(chǎn)品。在評估新組件和整機(jī)性能時(shí)，老化指標(biāo)較高。

所以測試只是老化座的許多功能之一，老化座，除了可以作為測試外，還要考慮其他參數(shù)。

測試一般是指常溫下，但老化時(shí)，往往需要考慮高溫、低溫、濕度、鹽度下的測試和長期測試時(shí)的排熱效果。塑料耐多少溫度不變形或燃燒！老化座可以在惡劣的環(huán)境下測試。老化座決定了一個(gè)芯片設(shè)計(jì)后是否可以問世；

目前國內(nèi)也有很做測試座/老化座的廠家，而且技術(shù)都是已經(jīng)非常的成熟了;像深圳欣同達(dá)科技有限公司 ，做socekt經(jīng)驗(yàn)是豐富;可以根據(jù)客戶的不同封裝的芯片定制客戶需求的socket。