SOC SOCKET
客制化IC測試架
適用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封裝
用于芯片的快速驗證,測試,燒錄,老化
壓蓋式設(shè)計供手工或自動加載或卸載機構(gòu)
適用于間距0.4mm-1.27mm產(chǎn)品
探針可更換,維修方便,成本低
客制化IC測試架
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用于芯片的快速驗證,測試,燒錄,老化
壓蓋式設(shè)計供手工或自動加載或卸載機構(gòu)
適用于間距0.4mm-1.27mm產(chǎn)品
探針可更換,維修方便,成本低
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用于芯片的快速驗證,測試,燒錄,老化
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適用于間距0.4mm-1.27mm產(chǎn)品
探針可更換,維修方便,成本低
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用于芯片的快速驗證,測試,燒錄,老化
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適用于間距0.4mm-1.27mm產(chǎn)品
探針可更換,維修方便,成本低



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探針可更換,維修方便,成本低
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適用于間距0.4mm-1.27mm產(chǎn)品
探針可更換,維修方便,成本低